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Titel MIRTEC亮相SMTA Guadalajara 2026,以创新3D检测技术彰显实力
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全球领先的检测设备制造商MIRTEC(美陆科技)宣布,已圆满完成于2026年10月7日至8日在墨西哥瓜达拉哈拉展览中心(Expo Guadalajara)举办的SMTA Guadalajara 2026电子制造技术展览会。


展会期间,MIRTEC在302号展位展示了先进的3D AOI、SPI、三防漆涂覆检测设备及AI智能工厂解决方案,吸引了墨西哥及全球电子制造行业客户与专业人士的广泛关注。

本次展会为MIRTEC提供了展示先进检测技术与创新智能制造解决方案的重要平台。同时,公司与全球客户及行业专家围绕电子制造过程中的质量提升、检测自动化及生产效率优化等议题进行了深入交流。

 

作为本次重点展示设备,MV-6TB 3D AOI采用创新的PCB上下表面同步检测技术,可在单次通过过程中同时完成双面检测。其独立双PC架构能够有效缩短检测周期,并实现最高200%的生产效率提升,成为展会备受关注的检测解决方案之一。

 

值得一提的是,MV-6TB在本届展会开幕前举行的颁奖典礼上荣获**“2026 Mexico Technology Award”同步上下表面AOI检测类别奖项**,充分体现了MIRTEC在先进检测技术领域的创新实力。

同期展示的GENESYS-CC采用多角度UV照明与高分辨率视觉系统,可对三防漆涂覆状态、微小气泡、裂纹及涂层厚度进行精密检测。此外,MV-6 OMNI Alpha结合12方向蓝光摩尔纹技术与AI自动编程功能,为不同PCB制造环境提供稳定、高效的3D检测解决方案。

 

同时展出的MS-11 Alpha 3D SPI专为高精度锡膏检测而设计,通过先进的高分辨率光学系统实现稳定、准确的锡膏测量。其可选配的自动补锡功能进一步提升了制造过程的质量稳定性与生产效率。

 

在智能制造领域,MIRTEC还展示了INTELLI-PRO AI解决方案。该系统集AI自动编程、智能缺陷分类、实时过程监控及数据集中管理于一体,可有效提高检测效率,为电子制造企业构建智能工厂提供全面支持。

 

展会期间,来自汽车电子、电子元器件及先进制造领域的众多客户和行业专业人士莅临MIRTEC展位,尤其对提高生产效率的双面同步检测技术及AI智能检测自动化解决方案表现出浓厚兴趣。

MIRTEC相关负责人表示:“SMTA Guadalajara 2026为我们提供了与墨西哥及全球电子制造行业客户面对面交流的宝贵机会。通过此次展会,我们不仅展示了MIRTEC先进的检测技术,也深入了解了不同制造环境所面临的实际挑战。特别是MV-6TB获得技术创新奖项,对我们而言具有重要意义。未来,我们将继续推动技术创新,为客户提供能够提升产品质量与生产效率的先进检测解决方案。”

 

MIRTEC向所有莅临展位的客户及合作伙伴表示衷心感谢。未来,公司将持续加强与墨西哥及拉丁美洲市场的合作,通过先进检测技术和AI智能工厂解决方案,进一步推动全球电子制造行业的创新与发展。