GENESYS-PIN

핀 검사 전용 3D AOI

최대 50㎜ 높이의 PIN 검사

- 미르기술만의 고유한 Hybrid 3D Technology
- 광학계의 Z축 이동을 통해 50㎜높이 핀 검사
- 최대 높이(50,000㎛) 측정 기준 ±15㎛의 높은 정밀도

Press-fit Pin, Single Pin, Pin Array, Fork Pin, Connector Pin 검사

Pin 부품과 SMD 부품 검사에 모두 사용

Multi-Vision® : 18 Megapixel 측면 카메라를 사용한 5면 동시 다면 검사

Intellisys® : 생산성 향상 및 스마트팩토리를 실현하는 통합공정관리 시스템

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